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提升5G測(cè)試效能

選擇可靠、高性能的微波/射頻電纜組件,能夠解決測(cè)試系統(tǒng)經(jīng)常遇到的很多問(wèn)題。例如,電纜組件性能差,會(huì)導(dǎo)致設(shè)備生產(chǎn)延遲、故障排除和維護(hù)頻率上升、頻繁校準(zhǔn)、數(shù)據(jù)完整性問(wèn)題、額外的重新測(cè)試、更高的總擁有成本、測(cè)試系統(tǒng)性能受損以及測(cè)試產(chǎn)量降低。閱讀5G白皮書,了解更多詳情。

下載5G白皮書,請(qǐng)?zhí)顚懩南嚓P(guān)信息:

戈?duì)枮楹娇蘸蛧?guó)防、航天、半導(dǎo)體以及測(cè)試和測(cè)量環(huán)境中的高柔性應(yīng)用提供具有顯著機(jī)械和電氣優(yōu)勢(shì)的高性能電纜組件。

New 70 GHz VNA Assembly

本視頻錄制于美國(guó)IMS 2016展會(huì)。

Final Flex Cycle Count at IMS 2016

在IMS 2016展會(huì)戈?duì)柈a(chǎn)品專家Chris Cox公布電纜彎折周期最終的計(jì)數(shù)。

Gore's Solution to 5G Test System Challenges

我們利用材料專長(zhǎng)開(kāi)發(fā)出市場(chǎng)上唯一具有穩(wěn)定電氣性能、而且線徑最小、重量最輕鎧裝結(jié)構(gòu)的5G射頻微波測(cè)試電纜組件。我們的電纜組件具有長(zhǎng)期可靠性能,能夠幫助5G通訊測(cè)試客戶大大節(jié)省測(cè)試時(shí)間,降低測(cè)試成本。

Gore's Flex Simulator at IMS 2016

在IMS 2016全展期中戈?duì)栯娎|在彎折模擬裝置中作耐彎折測(cè)試。

Microwave/RF Assemblies for Test & Measurement Applications

應(yīng)用工程師Keith Cuthbert和銷售同事Steve Peterson參與錄制

GORE? PHASEFLEX? Microwave / RF Test Assemblies

GORE? PHASEFLEX? 微波/射頻測(cè)試電纜組件產(chǎn)品資料包含產(chǎn)品的典型應(yīng)用、特點(diǎn)和優(yōu)勢(shì)、產(chǎn)品構(gòu)造、技術(shù)參數(shù)和產(chǎn)品料號(hào)等信息。

提升5G測(cè)試效能

選擇可靠、高性能的微波/射頻電纜組件,能夠解決測(cè)試系統(tǒng)經(jīng)常遇到的很多問(wèn)題。例如,電纜組件性能差,會(huì)導(dǎo)致設(shè)備生產(chǎn)延遲、故障排除和維護(hù)頻率上升、頻繁校準(zhǔn)、數(shù)據(jù)完整性問(wèn)題、額外的重新測(cè)試、更高的總擁有成本、測(cè)試系統(tǒng)性能受損以及測(cè)試產(chǎn)量降低。閱讀5G白皮書,了解更多詳情。

Type 0N For High Density Test/Interconnection

戈?duì)栕钚碌母呙芏葴y(cè)試互聯(lián)組件,設(shè)立了行業(yè)的新標(biāo)準(zhǔn),不僅 適用于高密度、多端口射頻和微波模塊化儀表應(yīng)用,而且適用 于對(duì)測(cè)試線纜柔性和線徑有要求的高速數(shù)字測(cè)試。

圖片由Keysight Technologies,Inc.提供